UV/VIS吸光表面・界面分光測定装置　SIS-5100　-　光応用機器・データ処理・分析機器・医療機器・独自の分析システム機器のシステム・インスツルメンツ株式会社

多様な機能性化学物質が生み出される現在、従来の決まりきったスタティックな測定法ではなく、それぞれのサンプルに応じて、実際にそのサンプルが機能する状態での測定やその機能を最大限発揮した状態での測定、最大限の負荷をかけた状態での、非破壊 in-situ 測定が求められています。
非破壊測定をすることにより再度同一サンプルのクロスチェックが可能となり、測定データの検証を他の測定法で保証することが出来ます。またスタティックな測定法では得られなかった機能性物質の経時的変化や機能発現は今、もっとも必要とされる物質情報のひとつです。

SIS-5000はスラブ型光導波路(SOWG)法により導波路界面に生じたエバネッセント波を利用し、表面、界面、極微量サンプルを分子レベルで非破壊、in-situ 測定します。

光ファイバーを用いた光学系を採用しているため、(スラブ型光導波路も光ファイバーといえます。)外乱光の影響を最小限にとどめることが出来ます。すなわちサンプルを第二光源で励起しながら測定しても第二光源の散乱光の影響をプローブ光は受けません。したがって、光機能状態、光励起状態のスペクトル測定が可能です。また、UV光による高分子の劣化過程をin-situで測定できます。

電気化学測定	電極界面と界面近傍のChemistry、分子デバイス機能解析、キャリア移動層測定、配線のプラズモン共鳴シュミレーション、太陽電池、ほか
光機能測定	励起子の構造解析と機能測定、機能原理の解析、配位、配向
有機系サンプル	色素のキャスト構造の解析、重合、LB膜、劣化、転移、昇華、吸着
金属ナノ微粒子	光吸収、表面プラズモン共鳴、周辺の屈折率の高感度測定
バイオテクノロジー	生体物質間相互作用、カイネティックス、ラベル測定、ノンラベル測定、たんぱく質機能解析
ナノケミストリー	固体表面、界面、dp構造解析、粉体、フラーレンほか

非破壊測定。状態測定ができます。
極微量物質の検出吸収測定ができます。
リアルタイムでサンプルの経時変化を連続測定できます。
バックグラウンド光の影響を受けません。
簡単に光の入射・出射角度を設定できます。

超高感度
LB膜中に単分子層相当濃度に対して、1/2または1/10の濃度のポルフィフィリンに色素が含まれている場合、すなわち0.5分子層相当あるいは0.1分子層相当の表面濃度程度の極低濃度になると、従来の分光測定装置では色素の光吸収スペクトルを測定することは非常に困難です。
従来の光導波道
光導波路内の入射光は特定の波長のため、光吸収スペクトルを測定することは不可能です。
ATR法
エレメントの厚さが機械的強度の関係で厚いため、光の反射回数が少なく充分な感度が得られません。バックグラウンド光の影響を受けないように暗くする必要があり、またATRプリズムの入射角度が極めて限られているため、光の入射・出射角度を定めるのに困難な作業を伴います。エバネッセント波の染み込み深さもμｍオーダーであるため、バルクと表面のちがいが判然としません。

スラブ型導波路（SOWG）法を分光測定に用い、白色光を導波路内で多重反射させることによりＮ倍（N=LS/L）の高感度を達成します。また、任意の角度を設定することが可能であるため、エバネッセント波の染み込み深さdp
dp=λ/2πn1（sin²θ-（n2/n1）²）^1/2
を変えることが出来ます。

: 本社・工場
〒192-0031
東京都八王子市小宮町776-2

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